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特殊ステージ搭載 顕微鏡システム スペシャルサイト

特殊ステージ搭載 顕微鏡システム

加熱・加熱延伸・冷却・凍結乾燥に対応 特殊ステージ搭載 顕微鏡システム

TYPE.1 加熱タイプ

加熱ステージ搭載 偏光顕微鏡システム

製品画像サンプルを加熱し、変化の様子を偏光観察・記録できる
システムです。

特長
  • 厳密な温度制御によりオーバーシュートを低減
  • 昇降温速度をコントロール可能
  • 偏光観察・レタデーションの測定が可能
  • モニタ観察、デジタル撮影・保存が可能
仕様

顕微鏡

BX51-P

デジタルカメラ

DP73

ステージ型式

ジャパンハイテック製 10002

測定温度範囲

室温〜600℃

昇降温速度設定

0.01〜100℃/分
昇降温速度は冷却加熱途中で変更可能

温度精度

±0.1℃

サンプルサイズ

直径16×厚さ1.5mm , ヒーター部:直径20mm

導入事例

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TYPE.2 加熱延伸タイプ

加熱延伸ステージ搭載 偏光顕微鏡システム

製品画像サンプルを加熱・延伸し、変化の様子を偏光観察・記録できる
システムです。

特長
  • 左右同時延伸方式により観察ポイントの位置ズレを低減
  • 一定荷重、延伸速度の2種類の制御が可能
  • 不活性ガス使用により、サンプルの酸化・分解の防止が可能
  • 偏光観察・レタデーションの測定が可能
  • モニタ観察、デジタル撮影・保存が可能
仕様

顕微鏡

BX51-P

デジタルカメラ

DP73

ステージ型式

ジャパンハイテック製 10073A

測定温度範囲

室温〜350℃

昇降温速度設定

0.1〜30℃/分

温度精度

±0.1℃

サンプルサイズ

幅7mm以下 , 厚さ2mm以下 , 長さ26mm以上

荷重レンジ

0.1〜200N「0.1N間隔」(0.01〜20N「0.01 N間隔」はオプション)

延伸(伸張)速度

1〜1000μm/sec

導入事例

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TYPE.3 冷却タイプ

冷却ステージ搭載 偏光顕微鏡システム

製品画像サンプルを冷却し、変化の様子を偏光観察・記録できる
顕微鏡システムです。

特長
  • 厳密な温度制御によりオーバーシュートを低減
  • 昇降温速度をコントロール可能
  • 偏光観察・レタデーションの測定が可能
  • モニタ観察、デジタル撮影・保存が可能
仕様

顕微鏡

BX51-P

デジタルカメラ

DP73

ステージ型式

ジャパンハイテック製 10002L

測定温度範囲

-190〜600℃

昇降温速度設定

0.01〜100℃/分
昇降温速度は冷却加熱途中で変更可能
室温〜-190℃の降温率はMAX30℃/分

温度精度

±0.3℃

サンプルサイズ

直径16×厚さ1.5mm

導入事例

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TYPE.4 凍結乾燥タイプ

凍結乾燥ステージ搭載 顕微鏡システム

製品画像サンプルを凍結乾燥し、変化の様子を透過観察・記録できる
システムです。

特長
  • 昇降温速度の制御・変更が自在
  • 微量のサンプルで観察が可能
  • 超長作動距離対物レンズにより100×の対物レンズまで搭載可能
  • モニタ観察、デジタル撮影・保存が可能
仕様

顕微鏡

BX51

デジタルカメラ

DP73

ステージ型式

ジャパンハイテック製 10008

測定温度範囲

-190〜+125℃

昇降温速度設定

0.01〜100℃/分
昇降温速度は冷却加熱途中で変更可能
室温〜-190℃の降温率はMAX30℃/分

温度精度

±0.1℃(室温〜125℃) ±0.3℃(-190℃〜室温)

サンプルサイズ

直径16×厚さ1.5mm , ヒーター部:直径20mm

雰囲気

真空(10Pa) , 大気中及び不活性ガス中(Ar,N2

導入事例